| Q: |
何謂解析力? |
| A: |
經過物鏡放大，仍可鑑別二物體之最小距離為最小鑑別率．
物鏡解析力公式: ε= 0.61×λ/ N.A.(Reyleigh formula)
ε:Resolving power
λ: Wavelength or radiation in use (λ=0.55μm is used for visible light)
N.A.: Objective N.A.
欲增加解析力，可使用開口值大的油鏡，能使鏡頭聚光能力增強，解析能力提高。另外為獲得更高解析度或超精密之量測，可使用DeepUV系統(解析力可達0.08μm)或共軛焦雷射掃描式顯微鏡(confocal laser scanning microscope)來滿足研究及實務上之要求。 |
|
 |
| Q: |
顯微鏡依觀察法分類為何？ |
| A: |
顯微鏡依觀察法分類如下，
1. 明視野觀察(Bright Field)： 一般光學組織切片及產品表面放大觀察
2. 暗視野觀察(Dark Field)： 小動物如螺旋桿菌及纖毛鞭毛結構等觀察，反光性強、對比低之產品表面、刮痕缺陷觀察
3. 位相差觀察(Phase Contrast)： 一般培養活體細胞觀察
4. 微分干涉觀察(Differential Interference contrast)： 活體卵細胞及線蟲等觀察，LCD導電粒子、晶柱、RGB或多層電路IC及晶元、玻璃刮痕缺陷觀察
5. 螢光觀察(Fluorescence)： 一般螢光染色標記或活體螢光如GFP等觀察
6. 偏光觀察(Polarized Light)： 礦物及結晶結構等觀察 |
|
|
| Q: |
位相差顯微鏡的原理為何？如何調整位相差裝置？ |
| A: |
利用位相差聚光鏡及內部位相環所構成的環狀光圈，產生中空光錐通過聚光鏡、穿過檢體，經過物鏡內的光延遲位環板而成，因檢體折射指數不同，造成繞射光束與直射光束發生干涉作用，得到明暗對比的效果。調整位相差裝置，先選擇聚光鏡上與物鏡相同倍率之位相差環，所形成的亮環與物鏡內的暗環配合，調整聚光鏡上亮環，使之重疊即可。 |
|
|
| Q: |
微分干涉顯微鏡有何特點？ |
| A: |
微分干涉相似於位相差原理，是觀察低對比活體細胞。此系統使用偏光片，並以Nomarski prism 取代相位環及光延遲位環板，此方法消除相差觀察法中產生光暈的缺點，提供具有凹凸感、敏銳鮮明、對比極佳的效果。 |
|
|
| Q: |
全反射顯微鏡有何特點？ |
| A: |
具有奈米級的解析度，訊號/背景比與其他的顯微觀察術高， CCD接收訊號，可以達到200HZ快速頻率的顯現影像。
APO100XOHR全反射物鏡(NA1.65、WD 0.1mm)：
使用時需訂製高折射率的蓋玻片跟物鏡油配合使用。(蓋玻片：折射率折射率1.788、厚度0.15mm；物鏡油：折射率1.78)
PLAPO60XOTIRFM全反射物鏡(NA1.45、WD0.15mm)：
可應用在DIC觀察，使用標準的蓋玻片及物鏡油。 |
|
|
| Q: |
何謂共軛焦掃描顯微鏡？其優點為何？ |
| A: |
簡單說共軛焦點顯微鏡就是使用針孔遮罩(pinhole aperture)排除離焦面所產生的雜訊，利用顯微鏡Z軸控制取得一組標本上高解析的光學切片，提供三維重組之用，厚標本沒有離焦影像，高對比、高解析、很好的螢光亮度平衡，光漂白現象較少、Close Talk較少。 |
|
|
| Q: |
共軛焦掃描顯微鏡水平解析度為何？ |
| A: |
可由公式ε=0.55λ/ NA求得x-y平面解析 |
|
|
| Q: |
共軛焦掃描顯微鏡z軸解析度為何？ |
| A: |
可由如下公式求得z軸解析
 |
|
|
| Q: |
光學顯微鏡、電子掃描顯微鏡、 雷射掃描顯微鏡三者特色為何？ |
| A: |
對於表面微小形狀產品的觀察，不外乎利用光學顯微量測顯微鏡或是電子顯微鏡，如果利用光學式高倍量測顯微鏡，其優點為彩色影像、可以即時觀察量測，但解析能力上則受制於可見光波長的限制，且3D影像上總是沒有電子掃描顯微鏡影像來得立體及層次分明，針對數μ的3D量測無法得到優異的再現性。
如果利用電子掃描顯微鏡，也有其不便及限制之處，除了黑白影像外，在檢查標本的製作上非常麻煩，除了要做微小薄片處理外，碰到無法導電的材料，還要做鍍膜處理以及抽真空等繁瑣處理，無法做到有效率及大範圍的即時觀察量測。而雷射掃描顯微鏡則利用波長408nm的雷射光掃描被測物表面，並且以0.01μ的段層掃描取樣，再將影像予以重組以得到直逼電子顯微鏡的高解像力及對比，因此可同時兼具光學顯微鏡之即時彩色影像觀察及電子掃描顯微鏡高解析精確量測之特色。 |
|
|
| Q: |
市面上所用的顯像感知器有哪幾種？其特色為何？ |
| A: |
市面上常用的顯像感知器有二種，光電二極體(photodiode)及光電倍增管(photomultiplayer)。Photodiode價格較便宜，一般設備皆使用此種感知器，但對於觀察低反射的試料效果較差；photomultiplayer感度佳，對於反射能力低的試料特別有效果，精密儀器如雷射掃描顯微鏡即採用此種感知器以達最佳影像呈現。 |
|
|
| Q: |
顯微量測之方法有哪些？ |
| A: |
1.目鏡測微尺量測(目鏡加裝測微尺規)
2.精密載物台移動光學尺量測
3.電腦影像視野量測(量測軟體)
一般光學量測顯微鏡平面是以X、Y軸精密載物台光學尺移動量測，而Z軸(高度)量測方式為對焦量測。如欲達到精準的3D(高度)量測，需採用雷射掃描以突破可見光波長之限制。 |
|
|
| Q: |
測微尺的計算方法為何？ |
| A: |
分為目鏡測微尺及平台測微尺，
1. 目鏡測微尺全長10mm共區分100小格，故1小格為10/100=0.1mm
計算公式：(測量格數 X 0.1mm) / 物鏡倍率
ex. (18格 X 0.1mm) / 40倍 = 0.045mm
0.045mm X 1000 = 45 μm
2. 平台測微尺全長1mm共區分100小格，故1小格為1/100=0.01mm |
|
|
| Q: |
何謂TIRFM？其原理為何？ |
| A: |
TIRFM就是Total Internal Reflection Fluorescence Microscopy的縮寫。當全反射現象發生在光從高折射率的介質入射到低折射率介質時，入射角大於臨界角的時候，此時在全反射發生的介面會產生一種漸逝波，此漸逝波僅僅激發介面上100nm左右的螢光分子。 |
|
|
| Q: |
生物光學顯微鏡依型式分類為何？ |
| A: |
分類如下，
1. 正立顯微鏡： 用於組織切片觀察
2. 倒立顯微鏡： 用於培養活體細胞觀察
3. 實體顯微鏡： 用於解剖動物植物觀察
4. 特殊顯微鏡： 如偏光顯微鏡、微分干涉顯微鏡、螢光顯微鏡、全反射顯微鏡、雷射共軛焦顯微鏡……等等 |
|
|
| Q: |
顯微鏡物鏡種類有哪幾種？ |
| A: |
有四種說明如下，
1. 消色差物鏡 (Achromate)： 消除紅、藍色的色像差
2 平場消色差物鏡((Plan Achromate)： 消除球面差和像場彎曲的幾何像差及紅、藍色的色像差
3. 半複消色差物鏡(Plan Semi Apochromatic)： 介於Ach 及 Apo 之間，消除球面差及和像場彎曲的幾何像差、紅、藍色的色像差，但對靛色的色像差也有修正
4. 複消色差物鏡(Plan Apochromatic)： 消除球面差和像場彎曲的幾何像差及紅、藍、靛色的色像差 |
|
|
| Q: |
漸逝波的強度如何計算？ |
| A: |
可由如下公式求得，
 |
|
|
| Q: |
何謂物鏡工作距離？何種情況需使用長工作距離之物鏡？ |
| A: |
物鏡的最前端與標本的最頂端的距離稱之為物鏡工作距離，物鏡工作距離與其開口值成反比。當使用一般物鏡觀察特殊產品(如封裝內部IC線路)因成像距離太短而無法成像、或高倍率觀察時物鏡非常接近標本造成壓迫時，可改用長工作距離或超長工作距離之物鏡鏡頭來改善此狀況。 |
|
|
| Q: |
暗視野觀察的原理為何？ |
| A: |
光線經由暗視野聚光鏡不直接照射在標本上，而是利用聚光鏡內部反射所產生的繞射光照射在標本，產生背景暗、主體發光的效果。 |
|
|
| Q: |
在明視野觀察下，如何調整比較好的亮度對比影像？ |
| A: |
物鏡N.A值 x 80%可得到一個值，調整聚光鏡開口至該位置可達到最佳的亮度對比。(對於對比低或未染色標本，可關小對比光圈值，提高對比度。) |
|
|
| Q: |
視野光圈應該放在那個適當位置？ |
| A: |
視野光圈大小位置，放置在略大於視野外緣。若開太大，視野外的雜光會進入產生光斑，若關太小，無法看到全視野。 |
|
|
